TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋

簡單描述
TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數(shù)測試儀器。該產(chǎn)品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能, 可滿足生產(chǎn)線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。
更新時間： 2024-10-19
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TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋

■ TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數(shù)測試儀器。該產(chǎn)品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能, 可滿足生產(chǎn)線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。

高速測量

■ 本產(chǎn)品運用了元件測試領域的技術，測試能力可達到甚至超越Agilent 4363B的水平，提供了的zui高測量速度15ms/次，尤其是解決了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題，為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。

多種可選的信號源阻抗模式

■ 不同LCR表由于輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結果，TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要，保證不同儀表間測試結果的*性。

恒電平模式適用于多層陶瓷電容器(MLCC)的測量

■ 陶瓷電容器（MLCC）對測試信號電平極為敏感，TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器，允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試，100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。

強大的變壓器測試能力

■ TH2825A具備變壓器測試能力，使用專門的變壓器測試夾具，無須改變測試線方式便可方便地測量匝數(shù)比（N， 1/N）、互感（M）、初次級電感（LA、LB），初次級直流電阻（DCR2）。有-5V-5V偏置電壓（僅TH2825A），可方便地用于通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。

■ 該產(chǎn)品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與Agilent

與儀表的接口兼容性

TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋技術參數(shù)：

型號		TH2825A
顯示器		240x64點陣LCD顯示器，5位讀數(shù)分辨率
測試參數(shù)	LCR 參數(shù)	\|Z\|,R, X, G, B, C, L, Q, D, θ(deg),θ(rad),DCR
	變壓器參數(shù)	DCR，DCR2，M, N，1/N，LA，LB
測試頻率		50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz, 40kHz, 50kHz,100kHz, 共10點
測試電平		10mVrms-1.0 Vrms, 1mV 步進＜200mV 10mV 步進≥200mV
信號源內阻		25Ω，100Ω， 25Ω/100Ω，C. V.（恒壓）
DC偏置電流（≥1kHz）		當100Ω內阻時，±50mA Max當25Ω內阻時，±200mA Max
基本測量準確度		0.1%
		\|Z\|, R, X	0.01 mΩ — 99.99MΩ
		G, B	0.0001μS — 999.99 S
		C	0.001pF — 1.9999 F
		L	0.001μH — 99.9999 kH
		Q	0.0001 — 9999
顯示范圍		D	0.0001 — 9999
		θ(DEG)	-180.00° — 180.00°
		θ(RAD)	-3.1415 — 3.1415
		Δ%	-999.99% — 999.99%
		Turns Ratio	0.001—9999.9
		DCR	0.1 mΩ—99.99 MΩ
		M,L2	0.001μH—99.99 kH
測量速度（≥100Hz）		快速:15ms（注1）,中速:66ms, 慢速:500ms
等效電路		串聯(lián), 并聯(lián)
量程方式		自動, 保持/手動切換
觸發(fā)方式		內部, 手動, 外部，總線
平均次數(shù)		1—255
校準功能		開路, 短路, 負載校正
測量端		5端
顯示方式		直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監(jiān)示) , 檔號及檔計數(shù)
列表掃描		4點頻率, 電平列表掃描測試
比較器功能		九檔（八檔合格，一檔不合格）
		上超/合格/下超比較器
存儲器		12組內部儀器設定供存儲/調用
接口		RS-232C, HANDLER, GPIB (選件)
		4263B*兼容，為與4263B的互換提供了良好的條件。
		注1：快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數(shù)小字符顯示比較判別。若包括測試參數(shù)大字符顯示，zui快測試時間另加5ms。

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